Das US-Patent

(0) Erste Bewertung abgeben
20%
CHF 244.80 Sie sparen CHF 61.20
Auslieferung erfolgt in der Regel innert 2 bis 4 Werktagen.
Fester Einband

Beschreibung

Das neue Recht: Patenterteilung und Patentverletzung in den USA

Das Werk bietet einen umfassenden Überblick über das neue amerikanische Patentwesen nach Leahy-Smith America Invents Act. Es wendet sich an Praktiker und informiert schnell und fundiert über die Möglichkeiten und Besonderheiten des US-Patentrechts.

  • »first inventor to file«
  • »Post-grant review« (neu; vgl. Einspruch in Europa)
  • »Inter partes review« (statt inter-partes re-examination)
  • »Derivation« (statt interference)
  • »Supplemental examination« (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents)
  • »novelty« und »prior art« (wesentliche Änderungen)

Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert:

  • materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren;
  • Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens.

Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.

Begründet von Manfred Schlenk, Curt M. Avery,fortgeführt von Richard L. Mayer.

Ab der 5. Auflage bearbeitet von Jeffrey M. Butler und David Molnia.

Die Autoren:
Jeffrey M. Butler, Acting General Counsel and Senior Advisor/Global IP-Consulting, New York, USA;
David Molnia, Patentanwalt, München;
unter Mitarbeit von Andreas Holzwarth-Rochford, Patentanwalt, Frankfurt

Aus den Besprechungen:
»Aus der Sicht des Rezensenten kann das Werk jedem einschlägig tätigen Praktiker uneingeschränkt empfohlen werden und sollte einen Platz in jeder gut sortierten Patentbibliothek haben.«
Patentanwalt lngo A. Brückner, LL.M., Cerlingen, in: GRUR Int 04/17



Autorentext

Richard L. Mayer / Jeffrey M. Butler / David Molnia



Klappentext

Das neue Recht: Patenterteilung und Patentverletzung in den USA

Das Werk bietet einen umfassenden Überblick über das neue amerikanische Patentwesen nach Leahy-Smith America Invents Act. Es wendet sich an Praktiker und informiert schnell und fundiert über die Möglichkeiten und Besonderheiten des US-Patentrechts.

  • »first inventor to file«
  • »Post-grant review« (neu; vgl. Einspruch in Europa)
  • »Inter partes review« (statt inter-partes re-examination)
  • »Derivation« (statt interference)
  • »Supplemental examination« (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents)
  • »novelty« und »prior art« (wesentliche Änderungen)

Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert:

  • materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren;
  • Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens.

Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.

Begründet von Manfred Schlenk, Curt M. Avery,fortgeführt von Richard L. Mayer.

Ab der 5. Auflage bearbeitet von Jeffrey M. Butler und David Molnia.

Die Autoren: Jeffrey M. Butler, Acting General Counsel and Senior Advisor/Global IP-Consulting, New York, USA; David Molnia, Patentanwalt, München; unter Mitarbeit von Andreas Holzwarth-Rochford, Patentanwalt, Frankfurt

Aus den Besprechungen: »Aus der Sicht des Rezensenten kann das Werk jedem einschlägig tätigen Praktiker uneingeschränkt empfohlen werden und sollte einen Platz in jeder gut sortierten Patentbibliothek haben.« Patentanwalt lngo A. Brückner, LL.M., Cerlingen, in: GRUR Int 04/17



Zusammenfassung
Das neue Recht: Patenterteilung und Patentverletzung in den USA Das Werk bietet einen umfassenden Überblick über das neue amerikanische Patentwesen nach Leahy-Smith America Invents Act. Es wendet sich an Praktiker und informiert schnell und fundiert über die Möglichkeiten und Besonderheiten des US-Patentrechts. 'first inventor to file' 'Post-grant review' (neu; vgl. Einspruch in Europa) 'Inter partes review' (statt inter-partes re-examination) 'Derivation' (statt interference) 'Supplemental examination' (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents) 'novelty' und 'prior art' (wesentliche Änderungen) Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert: materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren; Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens. Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.

Mehr anzeigen

Produktinformationen

Titel
Das US-Patent
Untertitel
Erwirkung und Durchsetzung unter besonderer Berücksichtigung der Rechtsprechung
Autor
Editor
EAN
9783452280008
ISBN
978-3-452-28000-8
Format
Fester Einband
Herausgeber
Heymanns C.
Genre
Internationales Recht
Anzahl Seiten
596
Gewicht
1204g
Größe
H252mm x B184mm x T43mm
Jahr
2016
Untertitel
Deutsch
Mehr anzeigen
Andere Kunden kauften auch